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測厚儀薄膜厚度均勻性測試
測厚儀薄膜厚度均勻性測試
| 品牌：SYSTESTER | 加工定制：是 | 型號：THI-1801 | ||||
| 類型：薄膜 | 測量范圍：0～2mm mm | 顯示方式：數顯 | ||||
| 電源電壓：220 V | 外形尺寸：無 mm |
產品特性：思克測厚儀,高精度測厚儀,測厚儀價格,厚度儀廠家思克
產品簡介：品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;型號:THI-1801 ;類型:薄膜 ;測量范圍:0～2mm mm;顯示方式:數顯 ;電源電壓:220 V;外形尺寸:無 mm
濟南思克測試技術有限公司
詳細介紹：
測厚儀薄膜厚度均勻性測試
濟南思克測試技術有限公司：品牌【SYSTESTER】
型號：THI-1801測厚儀（又稱0.1微米高精度測厚儀,紙張測厚儀,芯片測厚儀等）
執行標準：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353，適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
THI-1801測厚儀
技術指標：測量范圍：0～2mm（常規）0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：25次/min（可調）
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
產品特點：
32位嵌入式系統控制技術
專li技術，扁平化設計，直觀，操作方便
觸摸屏操作
所有操作均可在一個平面內完成，無須進入退出操作
TFT真彩色液晶顯示
接觸式厚度測量
測試過程自動化完成
手動、自動雙重測量模式
可采用標準厚度計量工具標定、檢驗
符合多種標準規定，標準接觸面積、測量壓力（可定制）
內嵌zui大值、zui小值、平均值、標準差等數據統計分析功能
量程可調（可根據要求定制）
配置微型打印機，可自動打印試驗數據
配置標準RS232通信口，利用*計算機軟件可zui大限度地挖掘試驗數據價值
可支持以太網通信，方便數據聯網（選購）
可支持DSM實驗室數據管理系統，實現數據統一管理（選購）
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