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薄膜熱縮性能測試儀
薄膜熱縮性能測試儀
| 品牌：SYSTESTER | 加工定制：是 | 測量范圍：見內(nèi)容 | ||||
| 重量：無 kg | 型號：FST |
產(chǎn)品特性：觸摸屏操作,思克熱縮儀,嵌入式系統(tǒng),收縮力測試
產(chǎn)品簡介：品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;測量范圍:見內(nèi)容 ;重量:無 kg;型號:FST
濟(jì)南思克測試技術(shù)有限公司
詳細(xì)介紹：
友情提示：店鋪價(jià)格僅供參考，不作為實(shí)際交易價(jià)格！
薄膜熱縮性能測試儀
薄膜熱縮性能測試儀 應(yīng)用范圍
適用于各種熱收縮性薄膜等材料收縮率、收縮力等指標(biāo)的定量測試。
薄膜熱縮性能測試儀 主要特點(diǎn)
計(jì)算機(jī)控制
多組樣品收縮率、收縮力同時測試
自動控溫
一鍵試驗(yàn)，自動結(jié)束
支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）
薄膜熱縮性能測試儀 技術(shù)指標(biāo)
收縮力量程：100N（標(biāo)配）
收縮力精度：±0.08%FSMAX
位移量程：100 mm
位移精度：±0.125mm
溫度范圍：室溫～300℃
控溫精度：±0.3℃
試樣數(shù)量：3組（6個試樣）
試樣尺寸：不小于130mm×15mm
氣源要求：干燥空氣，0.6MPa（氣源用戶自備）
薄膜熱縮性能測試儀 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ISO-14616、DIN 53369
薄膜熱縮性能測試儀 產(chǎn)品配置
主機(jī)、配置軟件、PCIE數(shù)據(jù)擴(kuò)展卡、通信電纜、取樣器
注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！
計(jì)算機(jī)控制
多組樣品收縮率、收縮力同時測試
自動控溫
一鍵試驗(yàn)，自動結(jié)束
支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）
薄膜熱縮性能測試儀 技術(shù)指標(biāo)
收縮力量程：100N（標(biāo)配）
收縮力精度：±0.08%FSMAX
位移量程：100 mm
位移精度：±0.125mm
溫度范圍：室溫～300℃
控溫精度：±0.3℃
試樣數(shù)量：3組（6個試樣）
試樣尺寸：不小于130mm×15mm
氣源要求：干燥空氣，0.6MPa（氣源用戶自備）
薄膜熱縮性能測試儀 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ISO-14616、DIN 53369
薄膜熱縮性能測試儀 產(chǎn)品配置
主機(jī)、配置軟件、PCIE數(shù)據(jù)擴(kuò)展卡、通信電纜、取樣器
注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！