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薄片厚度均勻性測(cè)試儀THI
薄片厚度均勻性測(cè)試儀THI
| 品牌：SYSTESTER | 加工定制：是 | 型號(hào)：THI | ||||
| 外形尺寸：- mm | 重量：- g | 適用范圍：-- | ||||
| 用途：- |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;型號(hào):THI ;外形尺寸:- mm;重量:- g;適用范圍:-- ;用途:-
濟(jì)南思克測(cè)試技術(shù)有限公司
詳細(xì)介紹：
友情提示：店鋪價(jià)格僅供參考，不作為實(shí)際交易價(jià)格！
薄片厚度均勻性測(cè)試儀
薄片厚度均勻性測(cè)試儀應(yīng)用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
薄片厚度均勻性測(cè)試儀主要特點(diǎn)
接觸式測(cè)量原理
進(jìn)口測(cè)厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機(jī)交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果
手動(dòng)、循環(huán)、預(yù)約定時(shí)多種測(cè)量模式
測(cè)試過(guò)程全自動(dòng)完成
內(nèi)嵌*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能
本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢(xún)功能
配置微型打印機(jī)，可自動(dòng)打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告
配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口
可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購(gòu)）
薄片厚度均勻性測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測(cè)量速度：1~25次/min（可調(diào)）
測(cè)量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
薄片厚度均勻性測(cè)試儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄片厚度均勻性測(cè)試儀產(chǎn)品配置
主機(jī)、薄膜測(cè)量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！
接觸式測(cè)量原理
進(jìn)口測(cè)厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機(jī)交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果
手動(dòng)、循環(huán)、預(yù)約定時(shí)多種測(cè)量模式
測(cè)試過(guò)程全自動(dòng)完成
內(nèi)嵌*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能
本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢(xún)功能
配置微型打印機(jī)，可自動(dòng)打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告
配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口
可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購(gòu)）
薄片厚度均勻性測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測(cè)量速度：1~25次/min（可調(diào)）
測(cè)量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
薄片厚度均勻性測(cè)試儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄片厚度均勻性測(cè)試儀產(chǎn)品配置
主機(jī)、薄膜測(cè)量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！