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SYSTESTER思克高精度薄膜測厚儀THI-1801
SYSTESTER思克高精度薄膜測厚儀THI-1801
| 品牌：SYSTESTER | 加工定制：是 | 型號：THI-1801 | ||||
| 類型：薄膜 | 測量范圍：見內容 mm | 顯示方式：液晶數顯 | ||||
| 電源電壓：220 V | 外形尺寸：詳細見內容 mm |
產品特性：測厚試驗儀,測厚檢測儀,測厚試驗儀,薄膜厚度儀
產品簡介：品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;型號:THI-1801 ;類型:薄膜 ;測量范圍:見內容 mm;顯示方式:液晶數顯 ;電源電壓:220 V;外形尺寸:詳細見內容 mm
濟南思克測試技術有限公司
詳細介紹：
友情提示：店鋪價格僅供參考，不作為實際交易價格！
思克高精度薄膜測厚儀應用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
思克高精度薄膜測厚儀主要特點
接觸式測量原理
進口測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗數據、結果
手動、循環、預約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內嵌*大值、*小值、平均值、標準差數據統計分析功能
本機內置歷史數據查詢功能
配置微型打印機，可自動打印單次、統計報告
配置標準通信接口
可支持DSM實驗室數據管理系統，實現數據統一管理（選購）
思克高精度薄膜測厚儀技術指標
測量范圍：0～2mm（標配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
思克高精度薄膜測厚儀執行標準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
思克高精度薄膜測厚儀產品配置
主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
注：產品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權與解釋權！
思克高精度薄膜測厚儀應用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
接觸式測量原理
進口測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗數據、結果
手動、循環、預約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內嵌*大值、*小值、平均值、標準差數據統計分析功能
本機內置歷史數據查詢功能
配置微型打印機，可自動打印單次、統計報告
配置標準通信接口
可支持DSM實驗室數據管理系統，實現數據統一管理（選購）
測量范圍：0～2mm（標配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件